2 402 202 книги
Поиск
Жанры
Книги
Категории и жанры
Лучшие книги
Библиотека
Помощь
Мобильная версия
Контакты
Как помочь?
libcats.org
Самая большая
электронная библиотека
рунета. Поиск книг и журналов
↓
Только точные совпадения
Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Автор:
Alberto Bosio
, Автор:
Luigi Dilillo
, Автор:
Patrick Girard
, Автор:
Serge Pravossoudovitch
, Автор:
Arnaud Virazel
Размер книги: 5.71 Mb